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光學(xué)測(cè)量手冊(cè)

光學(xué)測(cè)量手冊(cè)

定 價(jià):¥188.00

作 者: [美] 凱文·哈?。↘evin Harding) 著,王凡,田愛玲,倪晉平 譯
出版社: 國防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

ISBN: 9787118123517 出版時(shí)間: 2022-06-01 包裝:
開本: 頁數(shù): 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  本書涵蓋了光學(xué)測(cè)量技術(shù)的方方面面,包括光學(xué)測(cè)量技術(shù)的發(fā)展機(jī)遇與挑戰(zhàn)、傳統(tǒng)光學(xué)測(cè)量技術(shù)以及對(duì)未來光學(xué)測(cè)量技術(shù)的展望。首先概述光電測(cè)量技術(shù);然后分別針對(duì)大尺寸零件、中等尺寸零件以及微小尺寸零件的測(cè)量介紹相應(yīng)的激光跟蹤技術(shù)、位移干涉測(cè)量技術(shù)、相移技術(shù)、便攜式測(cè)量技術(shù)以及基于干涉的顯微技術(shù)、基于聚焦的光學(xué)測(cè)量技術(shù);最后,介紹先進(jìn)光學(xué)顯微測(cè)量技術(shù)及其應(yīng)用。本書可作為從事光學(xué)測(cè)量技術(shù)工程師的入門書,也可作為光學(xué)工程專業(yè)的本科生、研究生和教師的參考書。由于本書中的各個(gè)章節(jié)之間相對(duì)獨(dú)立,針對(duì)特定知識(shí)的閱讀,只需要閱讀相應(yīng)的章節(jié)即可。

作者簡介

  凱文·哈?。↘evin Harding)是紐約尼斯卡尤納通用電氣研究公司(GE Re-search)的首席科學(xué)家。他在科學(xué)技術(shù)研究和開發(fā)中心(R & D)擔(dān)任光學(xué)測(cè)量工作的領(lǐng)導(dǎo),為光學(xué)技術(shù)項(xiàng)目提供指導(dǎo)。在加入通用電氣公司之前,他在工業(yè)技術(shù)研究所擔(dān)任了14年的光電實(shí)驗(yàn)室主任,建立了光電業(yè)務(wù),參與了200多個(gè)項(xiàng)目,開發(fā)出一批(六種)商業(yè)產(chǎn)品。他在光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域工作了25余年,并發(fā)起和主持了技術(shù)會(huì)議及講習(xí)班,包括在機(jī)器視覺光學(xué)和照明方向講授課程15年。因其在3D測(cè)量技術(shù)方面的專長而獲得國際認(rèn)可,他的工作也得到了許多組織的認(rèn)可。他曾于1989年獲得制造工程師學(xué)會(huì)(SME)杰出青年工程師獎(jiǎng)、1990年獲得底特律工程學(xué)會(huì)(ESD)公共服務(wù)電子化領(lǐng)導(dǎo)獎(jiǎng)、1994年獲得自動(dòng)化成像協(xié)會(huì)領(lǐng)導(dǎo)獎(jiǎng)和1997年獲得SME Eli Whitney生產(chǎn)力獎(jiǎng)。哈丁發(fā)表技術(shù)論文120余篇,面向工業(yè)界和學(xué)術(shù)界講授短期課程、輔導(dǎo)課程,以及光學(xué)測(cè)量視頻課程60余門,為6本專著撰寫了部分章節(jié),獲發(fā)明專利55余項(xiàng)。哈丁曾擔(dān)任協(xié)會(huì)主席、社會(huì)委員會(huì)主席和會(huì)議主席20余年,與國際光學(xué)和光子學(xué)學(xué)會(huì)(SPIE)、美國激光研究所(LIA)、ESD、SME和美國光學(xué)學(xué)會(huì)(OSA)長期合作,曾任2008年SPIE的主席,目前是SPIE的研究員。

圖書目錄

第1篇 光學(xué)測(cè)量技術(shù)
第1章 光學(xué)測(cè)量技術(shù)概述
1.1 概述
1.1.1 探測(cè)器技術(shù)論證
1.2 探測(cè)器技術(shù)
1.2.1 探測(cè)器技術(shù)的基本概念
1.3 過程控制探測(cè)器
1.3.1 機(jī)器視覺探測(cè)器概述
1.4 3D探測(cè)器概述
1.4.1 3D技術(shù)的討論
1.4.2 點(diǎn)三角測(cè)量法
1.4.3 線三角測(cè)量法
1.4.4 面積三角測(cè)量法和莫爾測(cè)量法
1.4.5 激光探頭的應(yīng)用現(xiàn)狀
1.5 誤差分析
1.5.1 接觸式探頭誤差
1.5.2 設(shè)備軸線誤差
1.5.3 非接觸式探頭誤差
1.5.4 3D探頭誤差
1.5.5 測(cè)量基準(zhǔn)誤差
1.6 總結(jié)和展望
參考文獻(xiàn)
第2章 基于機(jī)器視覺的測(cè)量
2.1 機(jī)器視覺技術(shù)
2.2 搭建機(jī)器視覺
2.3 機(jī)器視覺照明
2.4 機(jī)器視覺中的光學(xué)成像
2.5 光學(xué)性能
2.5.1 透鏡
2.5.2 窗口
2.5.3 反射鏡
2.5.4 面形質(zhì)量
2.6 濾光片
2.6.1 干涉濾光片
2.6.2 彩色玻璃濾鏡
2.7 薄膜
2.7.1 增透膜
2.7.2 反射膜
2.7.3 孔徑
2.8 棱鏡
2.8.1 恒偏向棱鏡
2.8.2 旋轉(zhuǎn)圖像棱鏡
2.9 光學(xué)測(cè)試元件
2.9.1 反射面
2.9.2 漫反射面
2.9.3 定向反射/投射面
2.9.4 余弦圖
2.10 光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
2.11 相機(jī)
2.12 機(jī)器視覺軟件
2.13 應(yīng)用
2.14 小結(jié)與展望
2.14.1 小結(jié)
2.14.2 展望
參考文獻(xiàn)
第2篇 大尺寸物體的光學(xué)測(cè)量
第3章 激光跟蹤系統(tǒng)
3.1 概述
……
第3篇 中等尺寸物體的光學(xué)測(cè)量
第4篇 小尺寸物體的光學(xué)顯微測(cè)量
第5篇 先進(jìn)光學(xué)顯微測(cè)量方法

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