定 價：￥60.00
| 作 者： | 陳燕 著，陳燕 主編 |
| 出版社： | 知識產(chǎn)權(quán)出版社 |
| 叢編項： | |
| 標 簽： | 暫缺 |
| ISBN： | 9787513070294 | 出版時間： | 2020-07-01 | 包裝： | 平裝 |
| 開本： | 16開 | 頁數(shù)： | 228 | 字數(shù)： |
目錄
第一章知識產(chǎn)權(quán)基礎(chǔ)知識001
一、基本內(nèi)容框架 / 001
二、主要知識點 / 003
三、知識點解析 / 005
第二章專利申請025
一、基本內(nèi)容框架 / 025
二、主要知識點 / 026
三、知識點解析 / 027
第三章專利保護034
一、基本內(nèi)容框架 / 034
二、主要知識點 / 035
三、知識點解析 / 036
第四章專利運用063
一、基本內(nèi)容框架 / 063
二、主要知識點 / 064
三、知識點解析 / 065
第五章商標基礎(chǔ)078
一、基本內(nèi)容框架 / 078
二、主要知識點 / 080
三、知識點解析 / 081
第六章商標使用099
一、基本內(nèi)容框架 / 099
二、主要知識點 / 100
三、知識點解析 / 101
第七章注冊商標專用權(quán)的保護110
一、基本內(nèi)容框架 / 110
二、主要知識點 / 112
三、知識點解析 / 113
第八章著作權(quán)134
一、基本內(nèi)容框架 / 134
二、主要知識點 / 137
三、知識點解析 / 138
第九章地理標志179
一、基本內(nèi)容框架 / 179
二、主要知識點 / 180
三、知識點解析 / 181
第十章商業(yè)秘密193
一、基本內(nèi)容框架 / 193
二、主要知識點 / 194
三、知識點解析 / 195
第十一章集成電路布圖設(shè)計、植物新品種及遺傳資源等200
一、基本內(nèi)容框架 / 200
二、主要知識點 / 202
三、知識點解析 / 203
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