軟件缺陷模式與測(cè)試

前言第1章 軟件缺陷與缺陷模式 1.1 軟件缺陷的概念 1.2 軟件缺陷的來(lái)源 1.3 軟件缺陷的嚴(yán)重性和優(yōu)先級(jí) 1.4 軟件缺陷的發(fā)現(xiàn)、排除及效率 1.5 軟件缺陷數(shù)據(jù)庫(kù) 1.6 軟件缺陷管理 1.7 軟件缺陷預(yù)測(cè) 1.7.1 撒播模型 1.7.2 基于軟件規(guī)模和復(fù)雜性的測(cè)量模型 1.7.3 基于白盒測(cè)試的覆蓋率進(jìn)行預(yù)測(cè) 1.7.4 基于軟件研制的質(zhì)量控制過(guò)程進(jìn)行預(yù)測(cè) 1.7.5 基于測(cè)試時(shí)錯(cuò)誤發(fā)生的時(shí)刻進(jìn)行預(yù)測(cè) 1.8 軟件缺陷預(yù)防 1.8.1 了解缺陷 1.8.2 缺陷查找技術(shù) 1.9 軟件缺陷的對(duì)數(shù)正態(tài)分布 1.10 軟件代碼缺陷模式 1.11 C缺陷 1.12 基于缺陷模式的軟件測(cè)試的意義第2章 故障模式 2.1 Java故障模式 2.1.1 空指針使用 2.1.2 數(shù)組越界 2.1.3 資源泄漏 2.1.4 非法計(jì)算 2.1.5 死循環(huán) 2.1.6 并發(fā) 2.2 C/C++故障模式 2.2.1 內(nèi)存泄漏 2.2.2 數(shù)組越界 2.2.3 使用未初始化變量 2.2.4 空指針使用 2.2.5 非法計(jì)算 2.2.6 死循環(huán) 2.2.7 懸掛指針第3章 安全漏洞模式 3.1 Java安全漏洞模式 3.1.1 未驗(yàn)證的輸入 3.1.2 濫用API 3.1.3 安全特性 3.1.4 競(jìng)爭(zhēng)條件 3.1.5 不合理的異常處理 3.1.6 低質(zhì)量代碼 3.1.7 封裝不當(dāng) 3.2 C/C++安全漏洞模式 3.2.1 緩沖區(qū)溢出 3.2.2 被污染的數(shù)據(jù) 3.2.3 競(jìng)爭(zhēng)條件 3.2.4 風(fēng)險(xiǎn)操作第4章 疑問(wèn)及規(guī)則模式 4.1 疑問(wèn)模式 4.1.1 性能相關(guān) 4.1.2 冗余代碼 4.1.3 不良代碼 4.2 規(guī)則模式 4.2.1 聲明定義類(lèi) 4.2.2 版面書(shū)寫(xiě)類(lèi) 4.2.3 分支控制類(lèi) 4.2.4 指針使用類(lèi) 4.2.5 跳轉(zhuǎn)控制類(lèi) 4.2.6 運(yùn)算處理類(lèi) 4.2.7 過(guò)程調(diào)用類(lèi) 4.2.8 語(yǔ)句使用類(lèi) 4.2.9 調(diào)用返回類(lèi) 4.2.10 循環(huán)控制類(lèi) 4.2.11 類(lèi)型轉(zhuǎn)換類(lèi) 4.2.12 初始化類(lèi) 4.2.13 比較判斷類(lèi) 4.2.14 名稱、符號(hào)與變量使用類(lèi)第5章 基于缺陷模式的測(cè)試技術(shù) 5.1 基于缺陷模式的測(cè)試技術(shù)概述 5.1.1 發(fā)展概況 5.1.2 基于缺陷模式的軟件測(cè)試指標(biāo)分析 5.2 缺陷測(cè)試系統(tǒng) 5.2.1 缺陷測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu) 5.2.2 缺陷測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn) 5.3 缺陷測(cè)試系統(tǒng)的缺陷模式描述 5.4 缺陷測(cè)試系統(tǒng)的缺陷模式檢測(cè) 5.4.1 抽象語(yǔ)法樹(shù)分析 5.4.2 控制流分析 5.4.3 符號(hào)表構(gòu)建 5.4.4 數(shù)據(jù)流分析 5.5 使用缺陷測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行缺陷檢測(cè)第6章 區(qū)間運(yùn)算技術(shù) 6.1 經(jīng)典的區(qū)間代數(shù) 6.1.1 區(qū)間和區(qū)間運(yùn)算 6.1.2 區(qū)間向量和區(qū)間函數(shù) 6.2 擴(kuò)展的區(qū)間運(yùn)算 6.2.1 數(shù)值型區(qū)間集代數(shù) 6.2.2 非數(shù)值型區(qū)間代數(shù) 6.2.3 條件表達(dá)式中的區(qū)間計(jì)算 6.2.4 基于區(qū)間運(yùn)算的變量值范圍分析 6.3 變量的相關(guān)性分析 6.3.1 變量間關(guān)聯(lián)關(guān)系分類(lèi) 6.3.2 符號(hào)分析 6.4 區(qū)間運(yùn)算在程序分析中的應(yīng)用 6.4.1 檢測(cè)矛盾節(jié)點(diǎn) 6.4.2 檢測(cè)不可達(dá)路徑 6.4.3 提高缺陷檢測(cè)效率第7章 路徑敏感分析技術(shù) 7.1 數(shù)據(jù)流分析 7.1.1 控制流圖 7.1.2 數(shù)據(jù)流分析概述 7.1.3 四種典型的數(shù)據(jù)流問(wèn)題 7.2 數(shù)據(jù)流分析的理論基礎(chǔ) 7.2.1 格理論 7.2.2 不動(dòng)點(diǎn)理論 7.2.3 數(shù)據(jù)流分析的最大和最小不動(dòng)點(diǎn)解 7.2.4 數(shù)據(jù)流解的含義 7.3 基于數(shù)據(jù)流的缺陷檢測(cè) 7.3.1 缺陷模式狀態(tài)機(jī)實(shí)例 7.3.2 基于傳統(tǒng)數(shù)據(jù)流的缺陷檢測(cè) 7.4 路徑敏感的缺陷檢測(cè)技術(shù) 7.4.1 靜態(tài)缺陷檢測(cè)中的誤報(bào) 7.4.2 路徑信息抽象 7.4.3 路徑敏感的缺陷檢測(cè)算法第8章 函數(shù)間分析技術(shù) 8.1 問(wèn)題描述 8.1.1 函數(shù)約束對(duì)測(cè)試的影響 8.1.2 函數(shù)副作用對(duì)測(cè)試的影響 8.1.3 當(dāng)前研究狀況 8.2 函數(shù)約束信息 8.2.1 約束信息描述 8.2.2 約束信息在靜態(tài)測(cè)試中的應(yīng)用 8.2.3 實(shí)驗(yàn)環(huán)境及結(jié)果 8.3 函數(shù)后置信息 8.3.1 后置信息描述 8.3.2 生成算法 8.3.3 應(yīng)用實(shí)例 8.3.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果參考文獻(xiàn)