軟件項(xiàng)目成功之道

定　價(jià)：￥39.00

作　者：	（美）理查森，（美）格沃特尼，蘇金國(guó) 等譯
出版社：	人民郵電出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	軟件工程/開發(fā)項(xiàng)目管理

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ISBN：	9787115259653	出版時(shí)間：	2011-08-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁(yè)數(shù)：	181	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　如何成功地開發(fā)并交付軟件，是許多軟件企業(yè)面臨的難題。本書由專業(yè)開發(fā)人員編寫，匯集大量實(shí)用性建議及成功的項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)需要用到的工具和技術(shù)，通過42個(gè)技巧全面概括了軟件開放的方方面面，為開發(fā)人員指明了最適用的方法。本書還給出了大量軟件開發(fā)實(shí)踐，供讀者認(rèn)真思考并將其中涉及的具體概念轉(zhuǎn)化為自己的所得。就像其他Pragmatic圖書一樣，本書作者不僅無(wú)私分享了自己多年的軟件開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，而且將枯燥乏味的軟件開發(fā)過程描寫得趣味橫生，相信本書會(huì)對(duì)你的軟件研發(fā)工作有所啟迪，從而改變一些思維定式和研發(fā)模式。

作者簡(jiǎn)介

　　Jared R.Richardson是一名開發(fā)人員、演說(shuō)家、作家和獨(dú)立顧問，是由開發(fā)人員逐步成長(zhǎng)為研發(fā)經(jīng)理的。他有著十多年豐富的工作經(jīng)驗(yàn)，擅長(zhǎng)使用非定制技術(shù)來(lái)解決疑難問題。他領(lǐng)導(dǎo)著SAS軟件研究所的一個(gè)開發(fā)和測(cè)試團(tuán)隊(duì)，負(fù)責(zé)帶領(lǐng)整個(gè)公司提高了測(cè)試自動(dòng)化的使用。William A. GwaltneyJr.有著二十多年軟件開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，在網(wǎng)絡(luò)、通信、知識(shí)表達(dá)及基于網(wǎng)絡(luò)的計(jì)劃調(diào)度方面都很有造詣。他在SAS軟件研究所從事測(cè)試自動(dòng)化方面的工作。

圖書目錄

第1 章
緒論　　1
1.1 習(xí)慣性優(yōu)秀　　2
1.2 務(wù)實(shí)觀點(diǎn)　　3
1.3 路線圖　　5
1.4 繼續(xù)前進(jìn)　　7
1.5 怎樣讀這本書　　7
第2 章工具和基礎(chǔ)設(shè)施　　11
1 在沙箱中開發(fā)　　15
2 管理資產(chǎn)　　18
3 建立構(gòu)建腳本　　23
4 自動(dòng)構(gòu)建　　27
5 跟蹤問題　　32
6 跟蹤特性　　36
7 使用自動(dòng)化測(cè)試框架　　39
8 選擇工具　　46
9 何時(shí)結(jié)束試驗(yàn)　　48
第3 章實(shí)用項(xiàng)目技術(shù)　　51
10 按照任務(wù)清單工作　　53
11 技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)人　　65
12 每天都要協(xié)調(diào)和溝通　　73
13 審查所有代碼　　82
14 發(fā)送代碼變更通知　　91
15 大匯總　　96
第4 章曳光彈開發(fā)　　99
第5 章常見問題及解決辦法　　119
16 救命！我繼承了遺留代碼　　120
17 測(cè)試不可測(cè)試的代碼　　122
18 特性不斷破壞　　123
19 測(cè)試？我們?cè)缇筒挥昧恕　?24
20 不過我這里沒問題！　　126
21 集成代碼很痛苦　　127
22 不能可靠地構(gòu)建產(chǎn)品　　129
23 客戶不滿意　　130
24 有一個(gè)另類的開發(fā)人員　　131
25 你的經(jīng)理不滿意　　134
26 團(tuán)隊(duì)不能很好地合作　　136
27 在根本問題上無(wú)法得到“認(rèn)可” 　　137
28 新實(shí)踐沒有幫助　　140
29 沒有自動(dòng)測(cè)試　　143
30 我們只是低級(jí)別開發(fā)人員，沒有人指導(dǎo)我們　　144
31 我們?cè)谝粋€(gè)“死亡之旅”項(xiàng)目中　　145
32 特性不斷蔓延　　147
33 我們永遠(yuǎn)也完不了　　148
附錄A 技巧匯總　　　　151
附錄B 源代碼管理　　153
附錄C 腳本構(gòu)建工具　　157
附錄D 持續(xù)集成系統(tǒng)　　161
附錄E 問題跟蹤軟件　　165
附錄F 開發(fā)方法　　169
附錄G 測(cè)試框架　　173
附錄H 建議閱讀書目　　177